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涂鍍層測厚儀和涂層測厚儀的特點比較
日期:2025-01-11 07:41
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摘要:
涂層測厚儀也稱為涂鍍層測厚儀
根據(jù)測量原理,涂鍍層測厚儀一般有以下五種類型:
1.磁性厚度測量方法:適用于測量導電材料上非磁性導電層的厚度。 導磁材料通常是:鋼,鐵,銀,鎳。
2.渦流厚度測量方法:適用于導電金屬上非導電層的厚度測量。 此方法比磁性厚度測量方法(NT230涂層測厚儀)更**。
3.超聲波測厚法:目前國內(nèi)尚無這種測厚層厚度的方法。國外一些廠家也有這種儀器,適用于多層測厚層的厚度或厚度的測量。 無法測量以上兩種方法的場合。 但是它通常很昂貴并且測量精度不高。
4.電解厚度測量方法:該方法不同于上述三種方法。 這不是非破壞性測試,需要破壞涂層。 總體精度不高。 測量比其他類型更麻煩。
5.輻射厚度測量方法:這種儀器非常昂貴(通常在10萬元人民幣以上),適合某些特殊場合。
當前,*常用的方法是前兩種方法。
常規(guī)涂鍍層測厚儀的原理
在材料的表面保護和裝飾上形成的覆蓋層,例如涂層,鍍層,涂層,粘附層,化學生成的薄膜等,在相關(guān)的國家和國際標準中稱為涂層。
涂層厚度的測量已經(jīng)成為加工行業(yè)和表面工程質(zhì)量檢查的重要組成部分,并且是產(chǎn)品達到**質(zhì)量標準的必不可少的手段。 為了使產(chǎn)品國際化,我國的出口商品和與國外有關(guān)的項目對涂層的厚度有明確的要求。
涂層厚度的主要測量方法是:楔形切割法,光學切割法,電解法,厚度差測量法,稱量法,X射線熒光法,β射線背散射法,電容法,磁法和渦流法 法律等。這些方法的前五種是破壞性測試。 測量方法麻煩且緩慢,并且*適合于抽樣檢查。
X射線和β射線方法是非接觸式和非破壞性的測量方法,但是該設(shè)備復(fù)雜且昂貴,并且測量范圍小。 由于存在放射源,用戶必須遵守輻射防護規(guī)定。 X射線法可以測量非常薄的涂層,雙層涂層,合金涂層。 β射線法適用于原子量大于3的涂層的測量。電容法僅在測量薄導體絕緣涂層的厚度時使用。
隨著技術(shù)的進步,特別是近年來引入微計算機技術(shù)之后,采用磁法和渦流法的測厚儀已朝著小型化,智能化,多功能化,高精度和實用性的方向邁出了一步。 測量的分辨率達到了0.1微米,精度可以達到1%,這已經(jīng)大大提高了。 它具有廣泛的應(yīng)用范圍,范圍廣,操作簡便,價格低廉。 它是工業(yè)和科學研究中使用*廣泛的厚度測量儀器。
無損檢測方法既不損傷涂層也不破壞基材,檢測速度快,可以使大量的檢測工作變得經(jīng)濟。